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菲希爾XDAL 237 熒光射線鍍層測(cè)厚儀

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產(chǎn)品型號(hào)XDAL 237

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

菲希爾XDAL 237 X射線熒光測(cè)量?jī)x，帶有快速可編程的XY平臺(tái)和Z軸，可自動(dòng)測(cè)量薄涂層厚度和進(jìn)行材料分析。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品描述

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測(cè)量SnPb焊層中的鉛含量。在這一- 應(yīng)用中，首先要準(zhǔn)確測(cè)量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對(duì)于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量*多不能超過1000ppm.盡管XDAL測(cè)量Pb含量的測(cè)量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測(cè)量下限足夠低，可以很輕易達(dá)到以上的測(cè)量需求。

憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測(cè)器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測(cè)器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計(jì)數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺(tái)儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測(cè)量薄鍍層厚度。

含鉛量測(cè)試

PCB 裝配: 含鉛量測(cè)試

速鋼鉆頭：TiN/Fe

高速鋼鉆頭：TiN/Fe

在電子元器件中測(cè)量Pb含

可靠性高：在電子元器件中測(cè)量Pb含量 (>3%)

刀具檢測(cè)

刀具：TiN/Fe

特性：

。 X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測(cè)量任務(wù)。
。由于測(cè)量距離可以調(diào)節(jié)（*大可達(dá) 80 mm），適用于測(cè)試已布元器件的。電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
。通過可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測(cè)試
。使用具有高能量分辨率的硅漂移探測(cè)器，非常適用于測(cè)量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）

鍍層厚度測(cè)量：

。大型電路板與柔性電路板上的鍍層測(cè)量
。電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
。復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
。鉻鍍層，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
。氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測(cè)量

材料分析：

。電鍍槽液分析
。電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析

應(yīng)用實(shí)例：

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測(cè)量SnPb焊層中的鉛含量。在這一應(yīng)用中，首先要準(zhǔn)確測(cè)量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對(duì)于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量*多不能超過1000ppm。盡管XDAL測(cè)量Pb含量的測(cè)量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測(cè)量下限足夠低，可以很輕易達(dá)到以上的測(cè)量需求。