介電常數(shù)介質損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
介電常數(shù)介質損耗測試儀技術特性
Q 值測量范圍 2 ～ 1023
固有誤差 ≤ 5 ％
工作誤差 ≤7％
電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍 1 ～ 200pF
主電容調節(jié)范圍 18 ～ 220pF
主電容調節(jié)準確度 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ～ 160MHz
頻率分段 （ 虛擬 ） 100 kHz ～ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個字
介電常數(shù)介質損耗測試儀技術特性
平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
介電常數(shù)介質損耗測試儀概述
BD916介質損耗測試裝置與本公司生產的各款高頻Q表配套，可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質損耗系數(shù)（損耗角正切值）。BD916介質損耗測試裝置是BD916914的換代產品，它采用了數(shù)顯微測量裝置，因而讀數(shù)方便，數(shù)據精確。測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。BD916介質損耗測試裝置須配用Q表作為調諧指示儀器，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。
介電常數(shù)介質損耗測試儀特點
雙掃描技術/ 雙測試要素輸入 / 雙數(shù)碼化調諧 /自動化測量技術 /全參數(shù)液晶顯示 /DDS 數(shù)字直接合成的信號源 /計算機自動修正技術和測試回路*化
gdat高頻Q表的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具
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