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FS-70 半導體檢測用顯微鏡單元

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更新時間：2024-02-10 18:20:09瀏覽次數(shù)：225次

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FS-70半導體檢測用顯微鏡單元帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元

詳細介紹

FS-70 半導體檢測用顯微鏡單元帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。應用：切割、修整、校正、給半導體電路做標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復 (校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。支持BF (亮視場)、DF (暗視場)、偏振光及微分干涉對比(DIC) 的型號(產(chǎn)品) 可用。帶有孔徑光闌的柯勒照明是表面照明光學系統(tǒng)上的標準配件。內(nèi)傾轉(zhuǎn)塔和超長工作距離的物鏡確保了顯微鏡下的高可操作性。