科研包裝無約束抗內(nèi)壓破壞試驗(yàn)儀CW
科研包裝無約束抗內(nèi)壓破壞試驗(yàn)儀CW
一，工作原理
無菌科研包裝無約束抗內(nèi)壓破壞實(shí)驗(yàn)方法是評(píng)價(jià)包裝是否會(huì)因?yàn)槭艿綁翰钭饔枚鴮?dǎo)致破壞提供了快捷的評(píng)價(jià)方法?？蒲邪b無約束抗內(nèi)壓破壞試驗(yàn)儀可模擬檢測(cè)在滅菌和運(yùn)輸過程中形成的壓差。
二，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
YY/T0681.3-2010《無菌科研包裝試驗(yàn)方法 第3部分：無約束包裝抗內(nèi)壓破壞》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了蠕變?cè)囼?yàn)、蠕變破裂、蠕變到破裂實(shí)驗(yàn)三種實(shí)驗(yàn)方法，
三，三種實(shí)驗(yàn)方法詳情如下：
試驗(yàn)方法A（脹破試驗(yàn)）：在一臺(tái)儀器上對(duì)包裝進(jìn)行內(nèi)部加壓試驗(yàn)，直到包裝破壞。充氣和加壓設(shè)備要求能維持內(nèi)部壓力增加，直到包裝脹破。該試驗(yàn)是測(cè)量包裝破壞前檢出的大壓力。
試驗(yàn)方法B1（蠕變?cè)囼?yàn)）：在儀器上對(duì)包裝進(jìn)行內(nèi)部施加至規(guī)定的壓力，并保壓至規(guī)定的時(shí)間，充氣和加壓設(shè)備要求能保持內(nèi)壓力。該試驗(yàn)測(cè)量結(jié)果是合格/不合格。
試驗(yàn)方法B2（蠕變至破壞：）對(duì)包裝進(jìn)行蠕變?cè)囼?yàn)，直至包裝破壞。試驗(yàn)設(shè)置類似于蠕變?cè)囼?yàn)，只是設(shè)置的壓力需要高一些，以確保包裝在一個(gè)合理的時(shí)間內(nèi)（約15s）被破壞。該試驗(yàn)測(cè)量結(jié)果是破壞所需的時(shí)間。
公司科研包裝無約束抗內(nèi)壓破壞試驗(yàn)儀對(duì)科研包裝的生產(chǎn)工藝、滅菌工藝環(huán)節(jié)的包裝質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試，如果樣品通過無約束抗內(nèi)壓破壞試驗(yàn)實(shí)驗(yàn)，那么也可以合理的推斷該批次的產(chǎn)品質(zhì)量合格率。我們是一家專業(yè)的包裝材料檢測(cè)儀器廠家
四，技術(shù)參數(shù)
測(cè)試范圍：0～600kPa；0～87psi(標(biāo)配)
0～1.6 MPa；0～232.1 psi(另購)
充氣頭外徑：Φ10mm(標(biāo)配)；Φ4mm、Φ1.6mm(選購)
氣源壓力：0.4MPa～0.7MPa（氣源用戶自備）
氣源接口：Φ8mm聚胺脂管
傳感器數(shù)量：1個(gè)
電控箱尺寸：310mm(L)×370mm(W)×150mm(H)
測(cè)試架尺寸：305mm(L)×356mm(W)×325mm(H)
電源：AC 220V 50Hz/110V 60Hz
約凈重：25kg
五，產(chǎn)品技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1.嵌入式高速微電腦芯片控制，簡(jiǎn)潔高效的人機(jī)交互界面，為用戶提供舒適流暢的操作體驗(yàn)
2.7寸高清彩色液晶屏，實(shí)時(shí)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)及曲線
3.支持破裂、蠕變、蠕變到破裂、保壓等多種測(cè)試模式
4.支持膨脹抑制、膨脹非抑制測(cè)試
5.過壓安全保護(hù)、掉電記憶等安全設(shè)計(jì)，保證了測(cè)試過程中系統(tǒng)穩(wěn)定性
6.中英文界面可隨意切換
7.配置標(biāo)準(zhǔn)RS232通信口，方便系統(tǒng)與電腦的外部鏈接與數(shù)據(jù)傳輸
8.節(jié)能環(huán)保設(shè)計(jì)，造型美觀，超低功耗電源符合國家節(jié)能環(huán)保要求
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QQ:2568841715
