設(shè)備名稱:高低溫低氣壓試驗箱
型號:ASTD1000-70W
標(biāo)稱內(nèi)容積:可定制
溫度范圍:-70℃~+150℃
濕度范圍:設(shè)定:0%~99%;工作:25%~98%RH
壓力范圍:常壓~0.5kPa
降溫時間:+20℃→ -65℃,0.5℃/min≤0.5℃/min降溫速率線性變化(常壓、空載)
升溫時間:-70℃→150℃,0.5℃/min≤0.5℃/min 升溫速率線性變化(常壓、空載)
降壓時間:常壓 → 1kPa:≤17min;降壓變化率:≤5.8KPa/min(空載、箱內(nèi)干燥時)
溫度波動度:≤±0.5℃(常壓、空載)
溫度偏差:≤±2℃(常壓、空載)
溫度均勻度:≤±1℃(常壓、空載)
濕度偏差(常壓):≤ ±3.0%RH(>75%RH);≤ ±5.0%RH(≤ 75%RH)
風(fēng)速:≤1.7m/s
壓力偏差:±2kPa(40kPa~常壓),±5% (2kPa~40kPa),±0.1kPa(1kPa~2kPa)
電源容量:0 kVA(供參考)
制冷機組冷卻方式:水冷
流量:15 T / h
供水壓力:0.32 MPa~0.45MPa。
水溫:≤ 30℃(不結(jié)冰)
進水管徑:機組上備DN40(1.5")外螺紋接頭1對
地漏:制冷機組附近(2米以內(nèi))備有排水地漏
※1:不包括外形凸出部分(如引線孔蓋、腳墊等);
※2:做濕度試驗僅在常壓下進行;
※3:循環(huán)冷卻水由使用方提供;如有特殊條款,請以合同為準;冬季需保證循環(huán)冷卻水不結(jié)冰,如因水結(jié)冰導(dǎo)致管路損壞的不在質(zhì)保范圍內(nèi);
測試方法:
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法, 溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法,濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170. 10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法,高低溫低氣壓試驗設(shè)備
滿足試驗標(biāo)準:
GB/T2423.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T2423.2 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分:濕熱試驗
GB/T2423. 21-91 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法
GB/T2423.25-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-AM:低溫-低氣壓綜合試驗
GB/T2423.26-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-BM:高溫-低氣壓綜合試驗