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SOC750MW 中波紅外高速成像光譜儀

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產(chǎn)品簡介

SOC750-MW系列是一款快速、實(shí)時(shí)的MWIR高光譜成像系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

SOC750

SOC750-MW系列是一款快速、實(shí)時(shí)的MWIR高光譜成像系統(tǒng)。可以用于機(jī)器視覺、精準(zhǔn)農(nóng)業(yè) 、生物醫(yī)藥、國防安全、遙感科學(xué)等研究工作。

基于高速HgCdTe/MCT或InSb焦平面陣列探測器、高速掃描系統(tǒng)、高質(zhì)量的成像光譜儀、以及功能強(qiáng)勁的標(biāo)定和分析軟件HSAnalysis，SOC750-MW可以在2-5μm范圍內(nèi)以27Cubes/s的速度進(jìn)行高光譜圖像測量，光譜分辨率為48～73nm。所測數(shù)據(jù)可以由第三方軟件讀取及分析。

SOC750成像光譜儀包括實(shí)時(shí)高光譜成像處理器，采用的SOC公司專有的高性能HSAnalysis3軟件，軟件具有圖形用戶友好界面。

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)	SOC750-HB	SOC750-HR
主要特點(diǎn)	高亮度	高分辨率
檢測器	銻化銦(InSb)	銻化銦(InSb)
空間像素	256*240	512*512
光譜范圍	2-5µm	2-5µm
光譜通道	42	64
光譜帶寬	0.073µm	0.048µm
測量速度	11c/s@256×240×42 30c/s@160×144×42	2c/s@512×512×64 24c/s@128×146×64
FPA阱容	20Me?	5Me?
探測器像距	30µm	20µm
IFOV@50mm	0.6mr	0.4mr
測量溫度	1250°C	1100°C