Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是**研發(fā)出的一款基于ESCALAB 250Xi產品后，具有可擴展功能、多種分析技術集成化的測試手段。該產品通過的靈活性、完備的專業(yè)配置選項、直觀的軟件操作以及硬件配置，帶給用戶的是*****的的實驗結果和生產力。強大的Avantage數(shù)據系統(tǒng)提供系統(tǒng)控制、數(shù)據采集、數(shù)據處理與系統(tǒng)運行報告等一站式服務。
入圍**新品獲獎理由：
***的成像探測器設計，用于定量XPI成像： 電子倍增器和電阻陽極探測器的雙探測器設計，可實現(xiàn)高性能的XPS采譜和高空間分辨的XPS成像的需求?？臻g連續(xù)的電阻陽極探測器創(chuàng)新技術，一方面使得XPI成像分辨率達1um，另一方面使得XPI成像得到數(shù)據無探測器背底特征，無需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像結果。 可選配的EDS探測器，實現(xiàn)體相分析技術和表面分析技術的結合： 新設計Xi+系統(tǒng)可選配EDS探測器與俄歇電子*結合，可實現(xiàn)樣品納米尺度的體相微區(qū)元素成分分析，EDS可探測微米深度的元素組成，可以用于材料深度剖析前的元素組成預判。體相敏感的EDS技術和XPS表面分析技術的結合可更直觀地用于研究合金等的表面偏析行為。 標配的反射電子能量損失譜REELS分析技術，用于彌補UPS能帶分析和XPS元素分析： REELS可以探測材料的能級和帶隙結果，并可用于材料中H元素含量的定量。與UPS技術結合可了解完整的價帶導帶信息，并彌補XPS、AES等技術不能檢測H元素含量的缺陷 發(fā)展的系列基于Xi+的成熟準原位樣品處理、制備、反應系統(tǒng): 基于Xi+，設計的一系列成熟的ALD、MBE樣品制備系統(tǒng)，高溫高壓催化還原反應系統(tǒng)和樣品退火系統(tǒng)，滿足不同的科研項目需求。
性能特點
配備為提供** XPS 性能而設計的單色化X射線源，確保ESCALAB Xi+ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針有**的樣品測試通量。多技術能力、一系列靈活的樣品制備室及樣品處理設備，使該儀器在解決任何表面分析問題時都能游刃有余。利用*的 Avantage 數(shù)據采集和處理系統(tǒng)，從測試數(shù)據中挖掘盡可能多的信息。
ESCALAB Xi+ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針的特點：
高靈敏度能譜
小面積 XPS
深度剖析能力
角分辨 XPS
標配離子散射能譜 (ISS)功能
標配反射電子能量損失譜 (REELS)功能
標配“樣品預處理"室
多技術分析的多功能性
多個樣品制備技術可選
全自動無人值守式分析
多樣品分析
單色化X射線源
雙晶體微聚焦單色器配備一個 500 mm 直徑的羅蘭圓，使用鋁陽極靶
樣品 X 射線光斑尺寸可選擇范圍為 200 至 900 μm
透鏡、分析儀和檢測器
透鏡/分析器/檢測器一體化使 ESCALAB 250Xi XPS 能譜儀同時具備成像和小面積 XPS 分析能力的性
兩種類型的檢測器可以確保為每種分析提供**檢測——二維檢測器用于成像，基于通道電子倍增器的檢測器則用于需要檢測高計數(shù)率的能譜分析
透鏡配備了兩種電腦控制的光闌組件，一套視場光闌用于控制低至 <20 μm 的分析區(qū)域，適用于小面積分析；另一套光闌則用于控制透鏡的接收角，對于高質量角分辨 XPS 至關重要
180° 半球型能量分析器
深度剖析
數(shù)控式 EX06 離子*是一款高性能的離子源，哪怕在使用低能離子源時也有著很好的性能
提供方位角樣品旋轉
多技術能力
可配備其他分析技術而不降低 XPS 檢測性能
使用 EX06 離子*時透鏡組和能量分析儀的電源可反向（確保離子散射能譜 (ISS) 可用）
電子*可加壓升至 1000 V，為 REELS 提供優(yōu)異的離子源
技術選項
非單色化 X 射線光源的XPS分析
AES（俄歇電子能譜）
UPS（紫外光電子能譜）
真空系統(tǒng)
5 mm 厚高導磁?金屬分析室，****提高磁屏蔽效率
與使用內部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳
樣品制備
系統(tǒng)標配一體化的快速進樣室和制備室
額外的制備室可選
Avantage 數(shù)據系統(tǒng)
集成了測試分析的所有方面，包括儀器控制、數(shù)據采集、數(shù)據處理和報告生成
允許遠程控制，并且可輕松與第三方軟件交互（例如 Microsoft Word）
管理從樣品載入到報告導出的整個分析過程
應用領域
催化
化工
半導體
微電子
薄膜
太陽能
金屬
納米材料
玻璃
高分子
生物材料
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