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北京金三航科技發(fā)展有限公司
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北京金三航科技發(fā)展有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)2400
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2024-09-02 09:55:40瀏覽次數(shù)：124次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)英國ABI-2400電路板故障檢測(cè)儀強(qiáng)大的測(cè)試功能特點(diǎn)：1）適合各種類型的測(cè)試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測(cè)試2）可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析3）具有24路測(cè)試通道，也可使用探棒進(jìn)行巡檢測(cè)試，針對(duì)各種類型的封裝元件進(jìn)行測(cè)試
英國ABI-2400電路板故障檢測(cè)儀強(qiáng)大的測(cè)試功能特點(diǎn)：
1）適合各種類型的測(cè)試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測(cè)試
英國ABI-2400電路板故障檢測(cè)儀測(cè)試參數(shù)：
| V-I 測(cè)試參數(shù) | |
| 量測(cè)通道: | 24 多任務(wù)信道+ 2 實(shí)時(shí)對(duì)比通道 + 2 同步脈沖信號(hào)信道 |
| 信號(hào)電壓范圍: | 2 V to 50 V peak to peak |
| 電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
| 信號(hào)頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz |
| 信號(hào)電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
| 信號(hào)阻抗范圍: | 100 Ohm to 1 M |
| 測(cè)試信號(hào)波形: | 正弦波,方波,三角波,斜波,脈沖波 |
| 顯示圖形模式: | V-I, V-T, I-T |
| 量測(cè)波形自動(dòng)對(duì)比功能: | 可利用實(shí)時(shí)量測(cè)雙通道來自動(dòng)實(shí)時(shí)對(duì)比好壞組件的波形, 或是將波形進(jìn)行存儲(chǔ)之后, 再進(jìn)行比對(duì)工作. |
| 同步脈沖輸出模式: | 正向(Positive), 負(fù)向(negative)或雙向(bipolar)波形 |
| 同步信號(hào)振幅: | 可調(diào)式由 +10 V ~ - 10V |
2400電路板故障檢測(cè)儀全功能V-I測(cè)試模塊2400
全功能V-I測(cè)試儀
這是一個(gè)良好電容器的基本V-I圖形,可以利用實(shí)時(shí)對(duì)比通道來進(jìn)行波形比對(duì),可依比對(duì)的相似度來判定是否為故障組件的圖形.
可利用實(shí)時(shí)雙信道對(duì)比模式來實(shí)時(shí)比對(duì)二點(diǎn)不同通道的波形差異度.可利用此方式來分辯好板壞板上各點(diǎn)量測(cè)波形的相似度,進(jìn)而找到故障的組件.而此方式適合剛?cè)腴T的檢修工程人員來使用.
此模塊還提供了二個(gè)同步脈波輸出信號(hào),可提供MOSFET或門流體的觸發(fā)信號(hào).而其脈沖寬度, 信號(hào)極性及觸發(fā)角度皆可設(shè)置.
功能強(qiáng)大的矩陣掃描式VI曲線量測(cè)方式.它可分別依序?qū)⒏鞴苣_作為一信號(hào)的基準(zhǔn)點(diǎn),再對(duì)其它的管腳作VI曲線量測(cè).此功能會(huì)比一般的VI曲線量測(cè)更精準(zhǔn),更快速.
可同時(shí)顯示多組波形在同一個(gè)顯示窗內(nèi).此方式可同時(shí)檢視多個(gè)通道的比對(duì)結(jié)果.或是點(diǎn)選放大其中一個(gè)波形來進(jìn)行故障波形分析.
2400電路板故障檢測(cè)儀V-I 測(cè)試能力
量測(cè)通道:24 多任務(wù)信道+2實(shí)時(shí)對(duì)比通道+2同步脈沖信號(hào)信道
標(biāo)準(zhǔn)附件
1x24通道DIL測(cè)試夾
VI曲線的定義
V-I曲線測(cè)試是一種針對(duì)模擬及數(shù)字電路且可靠度高的測(cè)試方法.其測(cè)試方式是透過輸出電壓信號(hào)通過被測(cè)組件上所形成的電流信號(hào),而定義出該被測(cè)節(jié)點(diǎn)的阻抗.
而經(jīng)由連續(xù)的電壓-電流信號(hào)的變化所產(chǎn)生的阻抗測(cè)試數(shù)據(jù),將此一連續(xù)的測(cè)試數(shù)據(jù)繪制成一曲線,此為被測(cè)組件的V-I曲線. 通?？衫靡阎玫碾娐钒迳系腣-I曲線,來比對(duì)待測(cè)的電路板或組件,可達(dá)到快速故障診斷的目的.而這項(xiàng)測(cè)試技術(shù)最主要的優(yōu)勢(shì)是在于不需為電路板或組件加電,即可直接進(jìn)行比對(duì)測(cè)試.所以,即使是無法動(dòng)作的電路板也可以進(jìn)行故障檢測(cè)工作.
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