超低溫試驗(yàn)箱是模擬產(chǎn)品在高溫、低溫試驗(yàn)下的檢測試驗(yàn)，用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，是產(chǎn)品模擬環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。
規(guī)格與型號
| 設(shè)備名稱 | 超低溫試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)機(jī)、低溫箱 |
| 注 明 | 1、以下設(shè)備數(shù)據(jù)均需在環(huán)境溫度（QT）25℃.工作室無負(fù)載條件下測得；
2、可根據(jù)用戶的具體要求定做各種非標(biāo)型 |
| 型 號 | GDW-100 | GDW-225 | GDW-500 | GDW-800 | GDW-010 |
| 工作室 尺寸 | 450×450 ×500 | 500×600 ×750 | 700×800 ×900 | 800×1000 ×1000 | 1000×1000 ×1000 |
| 外形尺寸 | 950×900 ×1620 | 1000×1150×1870 | 1250×1350×2050 | 1450×1550×2200 | 1450×1580 ×2280 |
| 功率（kw） A/B/C/D/E | 3.0/4.0/4.5/6.0 | 3.5/5.0/5.5/ 6.5 | 6.0/7.0/7.5/ 8.5 | 7.0/9.0/11.0/12.5 | 9.0/10.0/11.5/13.0 |
| 性 能 指 標(biāo) | 溫度范圍 | A: 0℃～150℃ B: -20℃～150℃ C: -40℃～150℃ D:-120℃～150℃ E: -70℃～150℃ |
| 波動/均勻度 | ±0.5℃/±2℃ |
| 升溫速率 | 1～3℃/min |
| 降溫速率 | 0.7～1℃/min |
| 溫度運(yùn)行控制系統(tǒng) | 控制儀 | - 數(shù)顯液晶微電腦溫控儀；
- 進(jìn)口數(shù)顯集成微電腦溫控儀；
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| 輸出方式 | 脈沖式固態(tài)繼電器（PID+SSR）輸出； |
| 傳感器 | 鉑電阻 PT100Ω/MV |
| 加熱系統(tǒng) | 耐高溫磁架鎳鉻合電加熱式加熱器 |
| 制冷系統(tǒng) | 1、全封閉風(fēng)冷單級壓縮制冷方式 2、全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式原裝法“泰康” |
| 保護(hù)系統(tǒng) | 漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù) |
| 定時(shí)功能 | 0.1～999.9（S、M、H）可調(diào)，停電記憶、一鍵恢復(fù)功能 |
| 設(shè)備材料配置 | 外形材料 | 碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理 |
| 內(nèi)膽材料 | SUS304不銹鋼拉絲線條板 |
| 門框密封 | 雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條 |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 不銹鋼樣品架2個、測試引線孔（Ø50、Ø80、Ø100mm）1套 |
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超參試驗(yàn)箱低溫照標(biāo)準(zhǔn)
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
設(shè)備使用條件
環(huán)境溫度：5℃～＋28℃（24小時(shí)內(nèi)平均溫度≤28℃）
環(huán)境濕度：≤85%
電源要求： 220V/380V（ ±10%）V/50HZ 三相五線制
交 貨 說 明
供方送貨上門，供方負(fù)責(zé)運(yùn)費(fèi)；
供方負(fù)責(zé)安裝調(diào)試操作介紹，直到需方員工立操作為止；
保修期壹年，自安裝驗(yàn)收之日起計(jì)。供方承諾終生提供備件，售后服務(wù)必須到現(xiàn)場解決的， 供方在48小時(shí)之內(nèi)到達(dá)用戶現(xiàn)場。
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