電鍍膜厚儀_金東霖對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
傳統(tǒng)的楔切法，光截法，電解法，都是有損檢測。而X射線它采用非接觸式穿透測量法，既不會傷害材料，更不會受板型、現(xiàn)場條件、潔凈度等因素的影響。并且測量穩(wěn)定、準確還可以對大部分磁性或非磁性材料進行測量。
電鍍膜厚儀_金東霖軟體說明：
* 電腦操作系統(tǒng) XP系統(tǒng)
* 測量膜厚元素范圍：元素周期表13—92號元素間的所有鍍層，
使用FP法充許各元素鍍層次序的自由組合測量層層次，zui多可以測量四層（加基材zui多五層）
* 儀器支持二種鍍層厚度計算方法
（1）、無標準片的FP法（Fundamental Parameter）全新數(shù)學計算方法。
FP法名詞解釋：即在沒有標準塊的前提下，一樣能精確測量，此方式是通過儀器直接讀取鍍層元能量信息，通過各無素能量信號的強弱或設定的各無素比例參數(shù)，以一種數(shù)學的方式直接計算鍍的厚度。因為它不需要標準塊，因此它不受標準塊的限制，在沒有各種合金鍍層標準塊的情況下樣精確的測量各種二元、三元合金鍍層）到目前為止，bowman是世界上*可實現(xiàn)此種新型測試技術的膜厚測量品牌，此技術已使用了17年。
（2）、支持傳統(tǒng)的帶標準塊的檢量線法，即通過鍍層標準塊建立測試程式檔案測量相對應的鍍層厚度。
