一、產(chǎn)品用途：

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性，對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。

二、執(zhí)行試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

三、主要參數(shù)：

型號(hào)：HAST-25

內(nèi)箱尺寸：直徑φ*深250*450mm

外箱尺寸：寬*高*深560*1250*1050mm

型號(hào)：HAST-35

內(nèi)箱尺寸：直徑φ*深350*450mm

外箱尺寸：寬*高*深730*1630*1100mm

型號(hào)：HAST-40

內(nèi)箱尺寸：直徑φ*深400*450mm

外箱尺寸：寬*高*深750*1550*1300mm

型號(hào)：HAST-55

內(nèi)箱尺寸：直徑φ*深550*650mm

外箱尺寸：寬*高*深1150*1550*1400mm

溫度范圍

飽和：105～151.4℃(99%R.H): 105.0～133.3℃(99%R.H)

非飽和：110.0～157.5℃(85%R.H):110.0～140.0℃ (85%R.H)

118.0～162.5℃(65%R.H): 118.0-150.0℃(65%R.H)

濕度范圍：65%～99%R.H

壓力范圍

飽和：0.019～0.393MPa

非飽和：0.019～0.208MPa

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度均勻度：±0.5℃

濕度波動(dòng)度：±2.0%RH

壓力偏差：±5.0%RH

升溫速率：≤±2Kpa

升壓時(shí)間：+25℃～+135℃，全程平均約45min(空裁，不發(fā)熱)

箱體材質(zhì)

外箱材料：優(yōu)質(zhì)防腐電解板，表面靜電粉體烤漆，顏色為科明標(biāo)準(zhǔn)色

內(nèi)箱材料：SUS316不銹鋼板:內(nèi)膽整體全滿焊焊接而成

保溫層：超細(xì)*保溫層，阻燃等級(jí)A1

噪音≤60分貝(dB) (噪音檢測(cè)裝置距離設(shè)備大門1m處測(cè)量)

控制器：7寸彩色觸摸屏智能模糊控制器,搭載科明KM-5160 壓力溫濕度版操作系統(tǒng)

使用條件：1、+5℃～+35/2、相對(duì)濕度:不大于85%RH 3、大氣壓力:80kPa～106kPa4.平坦無振動(dòng)的地面

保護(hù)裝置a.加熱器空焚防止保護(hù)開關(guān) b,加熱器過電流斷路器c.循環(huán)風(fēng)扇過電流超載保護(hù) d.壓縮機(jī)高壓保護(hù)開關(guān) e,壓縮機(jī)過熱保護(hù)開關(guān)f.壓縮機(jī)過電流保護(hù)開關(guān)g,過電壓欠逆相保護(hù)開關(guān) h.路斷路器 漏電開關(guān)過零點(diǎn)流體功率控制器 k.缺水保護(hù)

四、產(chǎn)品特點(diǎn)：

內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。

產(chǎn)品滿足JESD22-A100至A118偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗?jié)裥栽囼?yàn)以及飽和高壓蒸汽（蒸煮）試驗(yàn)。

產(chǎn)品兼容高加速溫濕度應(yīng)力HAST老化試驗(yàn)和高壓蒸煮PCT抗?jié)裥栽囼?yàn)。

五、試驗(yàn)方法說明：

1.JESD22-A101-C:穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，和元件加偏壓的時(shí)間

常用測(cè)試條件：85℃±2/85%R.H±5/7.12psia（49.1kpa）/8mA/1000h

2.JESD22-A110 ：HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

常用測(cè)試條件：

130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h

3.JESD22-A118：溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，蒸汽壓力和時(shí)間

常用測(cè)試條件：

130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h（264h）和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h（96h）樣品數(shù)25ea/lot , 3lots

4. JESD22-A102-E：PCT高壓蒸煮試驗(yàn)

5. JESD22-A102-D：PCT無偏壓高壓加速抗?jié)裥栽囼?yàn)

試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，蒸汽壓力和持續(xù)時(shí)間

常用測(cè)試條件：121℃±2/99%R.H/29.7psia（205kpa）/24h,48h,96h,168h,240h,336h