金屬膜厚測(cè)試儀
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說明】
金屬膜厚測(cè)試儀可測(cè)元素范圍:鋁(AL) –鈾(U)。
可測(cè)量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μm。
自動(dòng)測(cè)量功能:編程測(cè)量,自定測(cè)量修正,測(cè)量功能。
底材修正:已知樣品修正。
定性分析功能:光譜表示,光譜比較。
定量分析功能:合金成份,分析數(shù)據(jù)。
金屬膜厚測(cè)試儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器,這種測(cè)量方法可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)的實(shí)時(shí)在線測(cè)量。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。
無論是汽車部件、衛(wèi)浴器具,還是半導(dǎo)體支架、接插端子、金銀首飾,美國(guó)bowman公司都一一有理想的儀器去進(jìn)行測(cè)量。美國(guó)bowman提供的都是高效率、低成本的測(cè)量?jī)x器,它廣泛應(yīng)用于各類電鍍工件的鍍層測(cè)厚及貴重首飾的成色分析,簡(jiǎn)單易用,維護(hù)方便,是節(jié)省生產(chǎn)成本的好幫手。
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