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場發(fā)射掃描電鏡(MIRA)

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產(chǎn)品型號BJ230012

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廠商性質(zhì)其他

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更新時間：2024-10-29 11:25:41瀏覽次數(shù)：67次

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北京華儀宏盛技術(shù)有限公司

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產(chǎn)品簡介

場發(fā)射掃描電鏡(MIRA)

詳細(xì)介紹

　　一代的MIRA場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了的技術(shù)優(yōu)點(如改進的高性能電子設(shè)備使成像過程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償，有內(nèi)置的編程軟件等)，同時保持著的性價比。MIRA3的設(shè)計適用于各種各樣的SEM應(yīng)用及當(dāng)今研究和產(chǎn)業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應(yīng)用，例如：EBSD、WDX等分析。MIRA3場發(fā)射掃描電鏡可配置LM、XM或GM三種樣品室。

　　所有的MIRA樣品室(LM、XM或GM)提供優(yōu)秀的5軸馬達驅(qū)動全計算機化優(yōu)中心樣品臺，完善的幾何設(shè)計更適合安裝能譜儀(EDS)，波譜儀(WDX)，電子背散射衍射(EBSD)。XM和GM樣品室適用于大樣品的分析。

　　現(xiàn)代電子光路

　　高亮度肖特基電子槍可獲得高分辨率/高電流/低噪音圖像

　　的三透鏡大視野觀察(Wide Field Optics™)設(shè)計提供了多種工作與顯示模式

　　的中間鏡的作用就如同軟件“光闌轉(zhuǎn)換器”，它以電磁方式有效地改變物鏡光闌

　　結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計軟件的實時電子束追蹤(In-Flight Beam Tracing™)，可模擬和優(yōu)化電子束

　　可選的In-Beam探頭可獲得特高分辨率圖像

　　電鏡的全自動設(shè)置

　　成像速度快

　　使用3維電子束技術(shù)，實時得到立體圖像，三維導(dǎo)航

　　維修簡單

　　現(xiàn)在保持電鏡處在優(yōu)秀的狀態(tài)很簡單，只需要很短的停機時間。每個細(xì)節(jié)設(shè)計得很仔細(xì)，使得儀器的大化，操作最簡化。

　　自動操作

　　設(shè)備的特點包括了自動設(shè)置和眾多自動操作。除此之外，電鏡還有樣品臺自動導(dǎo)航與自動分析程序，能明顯減少操作員的操作時間。通過內(nèi)置腳本語言(Python)可進入軟件的大多數(shù)功能，包括顯微鏡的控制、樣品臺的控制、圖像采集、處理與分析。通過腳本語言用戶還可以編程其自己的自動操作程序。

　　用戶界面友好的軟件與軟件工具多語言操作界面

　　多用戶界面(包括了EasySEMTM模式)不同賬戶的權(quán)利使常規(guī)分析過程更快

　　圖片管理，報告生成

　　內(nèi)置的系統(tǒng)檢查與系統(tǒng)診斷

　　網(wǎng)絡(luò)操作與遠(yuǎn)程進入/診斷

　　模塊化軟件體系結(jié)構(gòu)

　　標(biāo)準(zhǔn)軟件包括了測量、圖像處理、對象區(qū)域，等模塊

　　可選的軟件和包括顆粒度分析標(biāo)準(zhǔn)版/專家版、3維表面重建，等模塊

　　高亮度肖特基電子槍可獲得高分辨率/高電流/低噪音圖像

　　的三透鏡大視野觀察(Wide Field Optics™)設(shè)計提供了多種工作與顯示模式

　　的中間鏡的作用就如同軟件“光闌轉(zhuǎn)換器”，它以電磁方式有效地改變物鏡光闌

　　結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計軟件的實時電子束追蹤(In-Flight Beam Tracing™)，可模擬和優(yōu)化電子束