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岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時間：2023-04-20 12:32:19瀏覽次數(shù)：269次
聯(lián)系我時，請告知來自 紡織服裝機械網(wǎng)產(chǎn)品簡介：美國FrontierSemiconductor(FSM)成立于1988年
產(chǎn)品簡介：
美國Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年，總部位于圣何塞，多年來為半導體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設(shè)備，客戶遍布, 主要產(chǎn)品包括:光學測量設(shè)備: 三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應(yīng)力測量設(shè)備、 紅外干涉厚度測量設(shè)備、電學測量設(shè)備:高溫四探針測量設(shè)備、非接觸式片電阻及 漏電流測量設(shè)備、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析 (EOT)
FSM128薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備
在襯底鍍上薄膜后, 因為兩者材質(zhì)不一樣, 所以會引起應(yīng)力. 如應(yīng)力太大會引起薄膜脫落, 最終引致組件失效或可靠性不佳的問題. 薄膜應(yīng)力激光測量儀利用激光測量樣本的形貌,透過比較鍍膜前后襯底曲率半徑的變化, 以Stoney’s Equation計算出應(yīng)力, 是品檢及改進工藝的有效手段。
° 快速、非接觸式測量
° 樣品臺可通用于3至8寸晶圓
128L型號適用于12寸晶圓
128G 型號適用于470 X 370mm樣品，
另可按要求訂做
° 雙激光自動轉(zhuǎn)換技術(shù)
如某一波長激光在樣本反射度不足，系統(tǒng)會自動使用
另一波長激光進行掃瞄，滿足不同材料的應(yīng)用
° 全自動平臺，可以進行2D及3D掃瞄（可選)
° 可加入更多功能滿足研發(fā)的需求
電介質(zhì)厚度測量
光致發(fā)光激振光譜分析
（III-V族的缺陷研究）
° 500 及 900°C高溫型號可選
° 樣品上有圖案亦適用
° 規(guī)格:
° 測量方式: 非接觸式(激光掃瞄)
° 樣本尺寸:
° FSM 128 : 75 mm to 200 mm
° FSM 128L: 150 mm/ 200 mm/ 300mm
° FSM 128G: 550×650 mm
° 掃瞄方式: 高精度單次掃瞄、2D/ 3D掃瞄(可選)
° 激光強度: 根據(jù)樣本反射度自動調(diào)節(jié)
° 激光波長: 650nm及780nm自動切換(其它波長可選)
° 薄膜應(yīng)力范圍: 1 MPa — 1.4 GPa
° (硅片翹曲或彎曲度變化大于1 micron)
° 重復(fù)性: 1% (1 sigma)*
° 準確度: < 2.5%*
° *使用20米半徑球面鏡
° 設(shè)備尺寸及重量:
° FSM 128: 14″(W)×22″(L)×15″(H)/ 270 lbs
° FSM128L:14″(W)×26″(L)×15″/ 280 lbs
° FSM128G:37″(W)×48″(D)×19″(H)/ 400 lbs
° 電源 : 110V/220V, 20A
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