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深圳市禾苗分析儀器有限公司
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更新時(shí)間：2023-12-06 12:39:23瀏覽次數(shù)：142次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)E3是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF)，專門用于鍍層厚度檢測(cè)；其核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告；精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國(guó)內(nèi)外同類儀器，特別針對(duì)大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測(cè)試即可達(dá)到精確的測(cè)試效果。
1.1全自動(dòng)三維樣品臺(tái)
1.2 X射線向下照射式，激光對(duì)焦
1.3小光斑設(shè)計(jì)
1.4測(cè)試時(shí)間靈活性調(diào)節(jié)
1.5多規(guī)格樣品倉
1.6 X-Ray探測(cè)器
HeLeeX E3-3D采用美國(guó)原裝全進(jìn)口一體式X-123半導(dǎo)體X射線探測(cè)器，其的半導(dǎo)體制冷技術(shù)，高峰背比（信噪比），超高計(jì)數(shù)率，*的分辨率和穩(wěn)定性以及高集成化等特點(diǎn)，超越其他品牌或同品牌的組裝探測(cè)器。
探測(cè)器
● 類型：X123探測(cè)器（高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器）
● Be窗厚度：1mil
● 晶體面積：25mm2
● 分辨率：145eV
●信號(hào)處理系統(tǒng)：DP5
X射線管
●電壓：0-50v
●電流;2mA
●功率:50W
●靶材：Mo
●Be窗厚度：0.2mm
●使用壽命：大于2w小時(shí)
高壓電源
●輸出電壓：0-50Kv
●燈絲電流0-2mA
●功率：50w
●紋波系數(shù)：0.1%（p-p值）
●8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%
攝像頭
●焦距：微焦距
●驅(qū)動(dòng):免驅(qū)動(dòng)
●像素：800萬像素
準(zhǔn)直器、濾光片
●系統(tǒng)：快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)
●材質(zhì)：多種材質(zhì)準(zhǔn)直器
●光斑：光斑大小Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選
十字激光頭
●光斑形狀：十字線
●輸出波長(zhǎng)：紅光650nm
●光學(xué)透鏡：玻璃透鏡
●尺寸：Φ10×30mm
●發(fā)散角度：0.1-2mrad
●工作電壓：DC 5V
●輸出功率：<>
●工作溫度：－10～50℃
其它配件
●開關(guān)電源：進(jìn)口高性能開關(guān)電源
●散熱風(fēng)扇：進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇
● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （長(zhǎng)x寬x高）
● 樣品倉尺寸：360mm×400mm x160（長(zhǎng)x寬x高，高度可定制）
● 儀器重量：50kg
● 供電電源：AC220V/ 50Hz
● 功率：330W
● 工作溫度：15-30℃
● 相對(duì)濕度：≤85%，不結(jié)露
● 根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。
● 配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。
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