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廣州鴻熙電子科技有限公司
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更新時間：2025-03-16 09:30:28瀏覽次數(shù)：45次
聯(lián)系我時，請告知來自 紡織服裝機械網(wǎng)產(chǎn)品類型：能量色散X熒光光譜分析設(shè)備 產(chǎn)品名稱：X射線熒光測厚儀，涂鍍層厚度測試儀型號：iEDX-150WT；生產(chǎn)商：韓國ISP公司；亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴：廣州鴻熙電子科技有限公司
二、產(chǎn)品概述
產(chǎn)品類型：能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱：X射線熒光測厚儀，涂鍍層厚度測試儀
型 號：iEDX-150WT
生 產(chǎn) 商：韓國ISP公司
亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴：廣州鴻熙電子科技有限公司
產(chǎn)品圖片：
X射線熒光測厚儀，涂鍍層厚度測試儀
鍍層厚度測試儀 iEDX-150WT
工作條件 | |
●工作溫度：15-30℃ | ●電源：AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相對濕度：<70%，無結(jié)露 | ●功率：150W + 550W |
三、產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
（一）產(chǎn)品優(yōu)勢
（二）產(chǎn)品特征
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）。
可以增加RoHS檢測功能。
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對（比）模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
當化金厚度在2u〞-5u〞時，測量時間為40S
準確度規(guī)格 ±5%
JQ度規(guī)格 <5%（COV變動率）
當化金厚度 >5u〞時，測量時間為40S
準確度規(guī)格 ±5%
JQ度規(guī)格 <5%（COV變動率）
當化銀厚度在5u〞-15u〞時，測量時間為40S
準確度規(guī)格 ±8%
JQ度規(guī)格 <7%（COV變動率）
測化錫時，測量時間為40S
準確度規(guī)格 ±8%
JQ度規(guī)格 <6% （COV變動率）
準確度公式：準確度百分比=（測試10次的平均值-真值）/真值*99%
JQ度COV公式： （S/10次平均值）*99%
四、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標說明
u 測量原理：能量色散X射線分析 | u 樣品類型：固體/粉末 |
u X射線光管：50KV，1mA | u過濾器：5過濾器自動轉(zhuǎn)換 |
u檢測系統(tǒng)：Pin探測器(可選SDD) | u能量分辨率：159eV（SDD:125eV） |
u檢測元素范圍：Al (13) ~ U(92) | u準直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應(yīng)用程序語言：韓／英／中 | u分析方法：FP/校準曲線，吸收，熒光 |
u儀器尺寸：840*613*385mm | u樣品移動距離：220*220*10 mm（自動臺） |
微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口， 陽極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供ZJ性能。
能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
初級濾光片：Al濾光片，自動切換
7個準直器：客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
6. 分析譜線：
- 2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換）
- 基點改正（基線本底校正）
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7．視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍：3mm x 3mm
- 放大倍數(shù)：40X
- 照明方法：上照式
- 軟件控制取得高真圖像
8. 計算機、打印機（贈送）
注：設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器，需另計。
五、軟件說明
1．儀器工作原理說明
1) 軟件應(yīng)用
- 單鍍層測量
- 線性層測量，如：薄膜測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時進行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測量。
- 無電鍍鎳測量
- 吸收模式的應(yīng)用 DIN50987.1/ ISO3497-A2
- 勵磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法可以滿足所有應(yīng)用領(lǐng)域的測量
2) 軟件標定
- 自動標定曲線進行多層分析
- 使用無標樣基本參數(shù)計算方法
- 使用標樣進行多點重復(fù)標定
- 標定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能
3) 軟件校正功能：
- 基點校正（基線本底校正）
- 多材料基點校正，如：不銹鋼，黃銅，青銅等
- 密度校正
4) 軟件測量功能：
- 快速開始測量
- 快速測量過程
- 自動測量條件設(shè)定（光管電流，濾光片，ROI）
5) 自動測量功能（軟件平臺）
- 同模式重復(fù)功能（可實現(xiàn)多點自動檢測）
- 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)
- 測量開始點設(shè)定功能（每個文件中存儲原始數(shù)據(jù)）
- 測量開始點存儲功能、打印數(shù)據(jù)
- 旋轉(zhuǎn)校正功能
- TSP應(yīng)用
- 行掃描及格柵功能
6) 光譜測量功能
- 定性分析功能 （KLM 標記方法）
- 每個能量/通道元素ROI光標
- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能
- 光譜比較顯示功能：兩級顯示/疊加顯示/減法
- 標度擴充、縮小功能（強度、能量）
7） 數(shù)據(jù)處理功能
- 監(jiān)測統(tǒng)計值： 平均值、 標準偏差、 大值。
- 小值、測量范圍，N 編號、 Cp、 Cpk，
- 獨立曲線顯示測量結(jié)果。
- 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件
8）其他功能
- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
- 獨立操作控制平臺
- 視頻參數(shù)調(diào)整
- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接
- Multi-Ray、Smart-Ray自動輸出檢測報告（HTML，Excel）
- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......
- 數(shù)據(jù)庫檢查程序
- 鍍層厚度測量程序保護。
- 自動校準功能；
- 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境；
- 自動校準過程中值增加、偏置量、強度、探測器分辨率，迭代法取決于峰位置、 CPS、主X射線強度、輸入電壓、操作環(huán)境。
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