MAXXI 6臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀 - MAXXI 6
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說(shuō)明】
深圳市方源儀器有限公司—英國(guó)牛津儀器中國(guó)總代理商!臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀 - MAXXI 6提供高性能、快速可靠無(wú)損的鍍層厚度測(cè)量及材料分析,確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和高品質(zhì)。
概述:
深圳市方源儀器有限公司—英國(guó)牛津儀器中國(guó)總代理商!臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀 - MAXXI 6提供高性能、快速可靠無(wú)損的鍍層厚度測(cè)量及材料分析,確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和高品質(zhì)。
產(chǎn)品特點(diǎn):
- 高分辨率的硅漂移器(SDD)
- 開(kāi)槽式超大樣品艙設(shè)計(jì)
- 8個(gè)準(zhǔn)直器
- USB接口與計(jì)算機(jī)連接
我們的鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù),該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無(wú)需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無(wú)損的分析。
鍍層測(cè)厚儀 MAXXI 6 配備多準(zhǔn)直器系統(tǒng)及超大樣品艙,針對(duì)較薄而復(fù)雜的樣品,具有的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。
產(chǎn)品亮點(diǎn):
采用微聚焦X射線光管,實(shí)現(xiàn)高精度、高可靠性、測(cè)量時(shí)間短、購(gòu)置成本低
采用高分辨率的硅漂移探測(cè)器(SDD),提供能量級(jí)別的效率,極低的檢出限(LOD)
多準(zhǔn)直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號(hào)產(chǎn)額,提高測(cè)量效率
開(kāi)槽式超大樣品艙設(shè)計(jì),十分適合電路板或其他超大平板樣品
“USB接口”只需通過(guò)USB與計(jì)算機(jī)連接,無(wú)需額外的硬件或軟件
德國(guó)制造,符合工程標(biāo)準(zhǔn),堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期可靠性
通過(guò)PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)認(rèn)證,滿足輻射安全標(biāo)準(zhǔn)
性能及符合性
最多同時(shí)測(cè)定5層,15種元素及共存元素的校正
同時(shí)實(shí)現(xiàn)多于25種元素的定量分析
檢測(cè)方法通過(guò)ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認(rèn)證
開(kāi)槽式大樣品臺(tái)
可編程的XY樣品臺(tái)
樣品腔體積:500 × 450 × 170 mm
創(chuàng)新的防撞設(shè)計(jì)
可編程的樣品臺(tái)
預(yù)定位激光技術(shù)
的樣品臺(tái)行程范圍及速度
自動(dòng)測(cè)量
軟件及校準(zhǔn)
基于WindowsTM 7操作系統(tǒng),直觀的軟件MaxxControl
選擇經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確性或選擇FP無(wú)標(biāo)樣模式以輕松實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)
成分分析:可自由選擇元素;厚度測(cè)量:可自定義鍍層結(jié)構(gòu)
對(duì)RoHS和貴金屬進(jìn)行工廠預(yù)裝校準(zhǔn)(可選)
中國(guó)代理商:深圳市方源儀器有限公司
地址:深圳市南山區(qū)登良路62號(hào)南園綜合樓5樓 地址:上海市閔行區(qū)申濱路1051弄140號(hào)1101室
電話: 電話:
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